在使用中，通過替換連接在兩個支撐架之間的耦合元件或者調(diào)整多個耦合元件之間的連接關(guān)系，就可以將耦合去耦網(wǎng)絡(luò)的參數(shù)調(diào)整至與被測設(shè)備的參數(shù)相匹配。摘要 本發(fā)明公開一種耦合去耦網(wǎng)絡(luò)，包括：絕緣材質(zhì)的底座、設(shè)置于底座上的多個導(dǎo)電元件支架、以及多個耦合元件；一種耦合去耦網(wǎng)絡(luò)，其特征在于，包括：絕緣材質(zhì)的底座；
根據(jù)權(quán)利要求1所述的耦合去耦網(wǎng)絡(luò)，其特征在于，所述導(dǎo)電元件支架包括底架和個支撐架。根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的耦合去耦網(wǎng)絡(luò)，其特征在于，所述導(dǎo)電元件支架的支撐架包括： 與所述底架連接、且向所述底座的上方延伸的支撐架主體；根據(jù)權(quán)利要求4所述的耦合去耦網(wǎng)絡(luò)，其特征在于，通過焊接方式連接所述耦合元件與相應(yīng)的支撐架。根據(jù)權(quán)利要求5所述的耦合去耦網(wǎng)絡(luò)，其特征在于，通過壓力焊接方式連接所述耦合元件與相應(yīng)的支撐架。
根據(jù)權(quán)利要求4所述的耦合去耦網(wǎng)絡(luò)，其特征在于，通過導(dǎo)電夾持件連接所述耦合元件與相應(yīng)的支撐架。根據(jù)權(quán)利要求4所述的耦合去耦網(wǎng)絡(luò)，其特征在于，所述耦合元件包括電容、放電管和導(dǎo)線中的任意一種或任意多種。本發(fā)明屬于電氣測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種耦合去耦網(wǎng)絡(luò)。隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展，電子設(shè)備所處的電磁環(huán)境日益復(fù)雜，為了檢驗(yàn)電子設(shè)備在實(shí)際運(yùn)行過程中的抗干擾能力，要對電子設(shè)備進(jìn)行電磁兼容傳導(dǎo)抗擾度測試。
0規(guī)定了一種新的測試方法，允許使用耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行發(fā)射測量（CDNE），以測量30至300 MHz頻率范圍內(nèi)的干擾電壓。這種方法使EUT可以直接連接到CDNE，從而允許單個傳導(dǎo)發(fā)射測量來代替漫長的輻射發(fā)射測試。產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)可以使用這種快速，方便和經(jīng)濟(jì)的選擇。CDNE系列耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)CISPR 15為測量電氣照明設(shè)備的無線電干擾特性提供了一種獨(dú)立的方法。該方法規(guī)定使用IEC 61000-4-6中定義的耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)（CDN），擴(kuò)展頻率范圍為30至300 MHz。
多個耦合元件，每個所述耦合元件連接于分屬于不同導(dǎo)電元件支架的兩個支撐架之間，所述多個耦合元件通過所述導(dǎo)電元件支架構(gòu)成耦合電路和去耦合電路。根據(jù)權(quán)利要求1所述的耦合去耦網(wǎng)絡(luò)，其特征在于，所述導(dǎo)電元件支架包括底架和兩個支撐架。
