在使用中，通過替換連接在兩個支撐架之間的耦合元件或者調(diào)整多個耦合元件之間的連接關(guān)系，就可以將耦合去耦網(wǎng)絡(luò)的參數(shù)調(diào)整至與被測設(shè)備的參數(shù)相匹配。摘要 本發(fā)明公開一種耦合去耦網(wǎng)絡(luò)，包括：絕緣材質(zhì)的底座、設(shè)置于底座上的多個導電元件支架、以及多個耦合元件；一種耦合去耦網(wǎng)絡(luò)，其特征在于，包括：絕緣材質(zhì)的底座；
根據(jù)權(quán)利要求1所述的耦合去耦網(wǎng)絡(luò)，其特征在于，所述導電元件支架包括底架和個支撐架。根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的耦合去耦網(wǎng)絡(luò)，其特征在于，所述導電元件支架的支撐架包括： 與所述底架連接、且向所述底座的上方延伸的支撐架主體；根據(jù)權(quán)利要求4所述的耦合去耦網(wǎng)絡(luò)，其特征在于，通過焊接方式連接所述耦合元件與相應的支撐架。根據(jù)權(quán)利要求5所述的耦合去耦網(wǎng)絡(luò)，其特征在于，通過壓力焊接方式連接所述耦合元件與相應的支撐架。
根據(jù)權(quán)利要求4所述的耦合去耦網(wǎng)絡(luò)，其特征在于，通過導電夾持件連接所述耦合元件與相應的支撐架。根據(jù)權(quán)利要求4所述的耦合去耦網(wǎng)絡(luò)，其特征在于，所述耦合元件包括電容、放電管和導線中的任意一種或任意多種。本發(fā)明屬于電氣測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種耦合去耦網(wǎng)絡(luò)。隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展，電子設(shè)備所處的電磁環(huán)境日益復雜，為了檢驗電子設(shè)備在實際運行過程中的抗干擾能力，要對電子設(shè)備進行電磁兼容傳導抗擾度測試。
0規(guī)定了一種新的測試方法，允許使用耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)進行發(fā)射測量（CDNE），以測量30至300 MHz頻率范圍內(nèi)的干擾電壓。這種方法使EUT可以直接連接到CDNE，從而允許單個傳導發(fā)射測量來代替漫長的輻射發(fā)射測試。產(chǎn)品標準可以使用這種快速，方便和經(jīng)濟的選擇。CDNE系列耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)CISPR 15為測量電氣照明設(shè)備的無線電干擾特性提供了一種獨立的方法。該方法規(guī)定使用IEC 61000-4-6中定義的耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)（CDN），擴展頻率范圍為30至300 MHz。
多個耦合元件，每個所述耦合元件連接于分屬于不同導電元件支架的兩個支撐架之間，所述多個耦合元件通過所述導電元件支架構(gòu)成耦合電路和去耦合電路。根據(jù)權(quán)利要求1所述的耦合去耦網(wǎng)絡(luò)，其特征在于，所述導電元件支架包括底架和兩個支撐架。
